بازرسی غیر مخرب به روش آزمون ذرات مغناطیسی MT
چکیده: آزمون ذرات مغناطیس برای شناسایی كلیه عیوب زیر سطحیِ نزدیك به سطح و عیوبی كه به سطح راه یافته اند به كار می رود و صرفاً بر روی مواد با قابلیت مغناطیس شدن قابل استفاده می باشد. حساسیت این تست با افزایش فاصله عیب از سطح تدریجاً كاهش می یابد. به طور كلی این آزمون با استفاده از مغناطیس كردن سطح مورد آزمایش و پاشش ذرات فرو مغناطیس بر روی آن انجام می پذیرد كه در نتیجه ی میدان القائی، این ذرات فرو مغناطیس در محل هایی از میدان مغناطیسی كه توسط عیوب مغشوش و منحرف شده اند تمركز می یابند. صرف نظر از استفاده هر یك از تكنیك های آزمون مغناطیس، بهترین حساسیت در نمایش عیوب خطی زمانی حاصل می گردد كه میدان عمود بر جهت عیب باشد. برای به دست آوردن یك كارایی مطلوب از نمایش كلیه عیوب در آزمون باید هر سطح حداقل دو بار در جهت های عمود بر هم مورد آزمایش قرار گیرد. و همچنین در آزمون های انجام شده بروی سطح باید از همپوشانی (Overlap) كافی دو تست متوالی در نمایش عیوب به طور كامل اطمینان حاصل كرد. این جزوه به تشریح کامل روش های مختلف این آزمون می پردازد. همچنین معیارهای پذیرش عیوب در این آزمون نیز در این جزوه آورده شده است. لازم به ذکر است کلیه مطالب ذکر شده در این جزوه مطابق با استانداردهای بین المللی می باشد.
...
فرمت فایل: DOCX (ورد 2007) قابل ویرایش تعداد صفحات: 26
پایان نامه معماری نرم افزار و سبک ها در آن